2021年6月消息,，美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（NIST）稱其研究人員發(fā)現(xiàn)了一種利用透鏡像差,，讓傳統(tǒng)顯微鏡能精確地測量樣品在所有3D維度上的光點位置的方法。透鏡像差是幾乎所有光學(xué)顯微鏡都存在的問題,，會導(dǎo)致不完美的光聚焦,。

該方法依賴對熒光顆粒（fluorescent particles）圖像的仔細(xì)分析,，研究人員將這些顆粒放置在平面硅晶片上，以校準(zhǔn)顯微鏡,。由于透鏡像差的存在,，當(dāng)顯微鏡沿垂直方向（第三維度）上下改變特定位移量時，圖像會出現(xiàn)不平衡,，顆粒的形狀和位置會出現(xiàn)變化,。研究人員發(fā)現(xiàn)，即使顯微鏡在橫向平面移動數(shù)微米（百萬分之一米）或在垂直方向移動數(shù)十納米,，像差也會使圖像產(chǎn)生很大的失真,。

這一分析使研究人員能夠準(zhǔn)確地模擬出透鏡像差如何隨著垂直位置的變化，從而改變熒光顆粒的外觀和表面位置,。通過仔細(xì)校準(zhǔn)顆粒的外觀和表面位置相對于其垂直位置的變化,，研究小組成功利用顯微鏡精確測量了所有三維空間的位置。

研究人員指出,，利用透鏡像差提供的潛在信息,，彌補了目前顯微鏡學(xué)家在三維空間進行測量時缺乏可用方法的情況。新方法有擴大此類測量可用性的潛力,。

研究人員還指出,，用戶只需要一個標(biāo)準(zhǔn)樣品來測量其的效果，并通過校準(zhǔn)使用測量的數(shù)據(jù)即可,。

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https://www.nist.gov/news-events/news/2021/06/escape-flatland-calibration-method-enables-microscopes-make-accurate。

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